L’imagerie par spectrométrie de masse d’ions secondaires TOF-SIMS, en 3-D et à moins de 1 micromètre : principes et applications, de l’étude de métabolites de bois tropicaux aux tableaux anciens

Le Vendredi 17 janvier 2020, de 09h30 à 11h00
Résumé

Conférencier : Brunelle Alain – Sorbonne Université

Lieu
211DLV
Organisateur
Laurence CHARLES
Catégorie
Conférences